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    Measurement of the optical phase statistics of single-mode semiconductor lasers biased around the threshold current

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    MeasurementOpticalPh ... (2.873Mb)
    Identificadores
    URI: https://hdl.handle.net/10902/38385
    DOI: 10.1364/OE.574701
    ISSN: 1094-4087
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    Autoría
    Valle Gutiérrez, ÁngelAutoridad Unican; Rosado, A.; Soldevilla, G.; Esquivias, I.
    Fecha
    2025-11
    Derechos
    © 2025 Optica Publishing Group under the terms of the Optica Open Access Publishing Agreement. Users may use, reuse, and build upon the article, or use the article for text or data mining, so long as such uses are for non-commercial purposes and appropriate attribution is maintained. All other rights are reserved
    Publicado en
    Optics Express, 2025, 33(23), 48676-48687
    Editorial
    Optica Publishing Group
    Enlace a la publicación
    https://doi.org/10.1364/OE.574701
    Resumen/Abstract
    We report on the experimental analysis of the statistics of the optical phase of the light emitted by a distributed-feedback (DFB) laser. We measure the dependence of the phase diffusion coefficient on the applied bias current in the region around the threshold current. We measure the phase noise statistics using three different methods based on i) averages of the noise phase trajectories over different temporal windows, ii) the variance of the phase noise difference, and iii) the frequency noise spectral density. The comparison between the results obtained with these methods is succesful. We obtain that the phase diffusion coefficient monotonously decreases with the bias current in the region around threshold. We finally compare our experimental results with simple analytical expressions for the below and above threshold cases based on Schawlow-Townes laws.
    Colecciones a las que pertenece
    • D15 Artículos [893]
    • D15 Proyectos de Investigación [187]
    • D52 Artículos [1421]
    • D52 Proyectos de investigación [458]

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