El presente trabajo se centra en la optimización y validación de un difractómetro de rayos X, el D2 Phaser, para su uso en análisis de fluorescencia de rayos X (XRF). A lo largo de este trabajo, se han explorado los procedimientos de calibración necesarios para adaptar el equipo a la caracterización elemental cualitativa y se han evaluado sus capacidades y limitaciones, especialmente en el ámbito de la cuantificación. Los resultados demuestran que, si bien el D2 Phaser puede ser una herramienta fiable para la detección cualitativa de elementos mediante una calibración adecuada, presenta limitaciones significativas para la cuantificación precisa debido a factores como los efectos de la matriz y las deficiencias del software. Sin embargo, se ha demostrado que la cuantificación relativa es viable en ciertos contextos, lo que amplía la utilidad del equipo.
This work focuses on the optimization and validation of an X-ray diffractometer, the D2 Phaser, for use in X-ray fluorescence (XRF) analysis. Throughout the study, we investigated the calibration procedures required to adapt the instrument for qualitative elemental characterization and assessed its capabilities and limitations, particularly in the area of quantification. The results show that, although the D2 Phaser can be a reliable tool for qualitative element detection when properly calibrated, it presents significant limitations for accurate quantification due to factors such as matrix effects and software shortcomings. Nevertheless, relative quantification is shown to be feasible in specific contexts, thereby extending the instrument’s usefulness.
