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Estrés térmico y test de fallos en HEMT de GaN: origen físico y modelado

dc.contributor.advisorFernández Ibáñez, Tomás 
dc.contributor.authorPrieto Tárano, Eva
dc.contributor.otherUniversidad de Cantabriaes_ES
dc.date.accessioned2023-01-24T11:38:56Z
dc.date.available2023-01-24T11:38:56Z
dc.date.issued2008-10-30
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10902/27418
dc.format.extent91 p.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rights© Eva Prieto Táranoes_ES
dc.titleEstrés térmico y test de fallos en HEMT de GaN: origen físico y modeladoes_ES
dc.title.alternativeThermal stress and life test on GaN HEMT: physical origin and modelinges_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesises_ES
dc.rights.accessRightsrestrictedAccesses_ES
dc.description.degreeIngeniería de Telecomunicaciónes_ES


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Nombre:
293010.pdf
Tamaño:
3.034Mb
Formato:
PDF

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