@misc{10902/1166,
year = {2012},
month = {9},
url = {http://hdl.handle.net/10902/1166},
abstract = {La polarimetría es una herramienta que nos permite estudiar la polarización
de la luz emergente de un sistema y su relación con las propiedades físicas del
mismo. Es decir, interpretando la información obtenida de un análisis polarimétrico de la luz emergente de un medio, se pueden determinar algunas de sus
propiedades físicas.
Las matrices de Mueller contienen toda la información sobre las propiedades
polarimétricas de un material para unas condiciones dadas y por lo tanto son
susceptibles de ser utilizadas para caracterizar un medio. Sin embargo, pese a
que estas matrices contienen gran cantidad de información, ésta no es sencilla
de extraer en términos de parámetros físicos significativos ya que su estructura
matemática es muy compleja.
Por lo tanto, al trabajar con polarimetría aparece un doble objetivo. En
primer lugar, hay que obtener la matriz de Mueller de un sistema de la forma más
precisa posible y, en segundo lugar, es necesario disponer de una herramienta
matemática de análisis matricial, que facilite la interpretación de la información
que contienen estas matrices relacionándola con parámetros físicos significativos.
En este trabajo nos centraremos en el primero de los objetivos citados, es
decir, obtener las matrices de Mueller de la manera más precisa posible. Más
en concreto, nos proponemos ampliar el rango espectral de un polarímetro de
compensador dual rotatorio (PCDR). Con ello pretendemos mejorar las posibilidades
de trabajo de un PCDR, que al comenzar este trabajo funcionaba
únicamente para una longitud de onda, y convertirlo en un espectro-polarímetro
que proporcione buenos resultados para diferentes longitudes de onda del rango
visible.
Finalmente, y tras los procesos relacionados con la puesta a punto y calibrado,
se realizaran medidas de diferentes sistemas ópticos para comprobar la
respuesta del dispositivo experimental a las modificaciones realizadas.},
title = {Estudio polarimétrico y evaluación de las propiedades ópticas de sistemas sencillos},
author = {Extremiana Vázquez, Cristina},
}